TEWS 高性能解决方案

OEM 解决方案助您取得成功。

您的生产工艺与我们的专利解决方案相结合,结果就是最准确的产品水分和密度数据。

解决方案

100%

专门为您量身定制

经验

>45

开发时间

<12

个月

我们的解决方案有助于公司更快实现目标。30 多年来TEWS 水分和密度测量解决方案广泛用于全球各行各业。我们的高性能解决方案基于 TEWS 专利微波技术,集表面与核心水分检测以及密度、重量和相关参数测量于一体。

更胜一筹 - 无论是就高速在线重量控制、水分测量、分拣、烘干机控制、涂层还是剂量而言,我们的高性能解决方案都很简单:我们提供专利微波技术以及热情周到的服务。要问为什么,答案与我们的解决方案一样简单:就是改善客户的生产工艺。换句话说,也就是帮助客户取得更好的结果。

我们与全球众多行业领先公司携手合作开发和设计解决方案,进而实现高度灵活性。我们的工程师不仅可按工艺、机器和应用调整技术,还可将新理念转化为新解决方案。我们称之为:Co-Improving®。

TEWS 方法使公司能够获得有关产品水分和密度的高精度数据。一站式解决方案无需任何样品制备,即可在成本节约和质量控制方面优化整个生产工艺。

优秀案例

世界领先公司如何受益于 TEWS

OEM 解决方案助您取得成功

含水量事关重大

在几乎所有工艺步骤全面控制水分含量,可显著优化产品质量和效率。为取得更好的结果,管理产品水分是一大关键因素。TEWS 专利解决方案可提供高精度结果。就公司目标及其如何更快实现而言,这才是关键所在

 

  • 确保高速生产 – 从某种意义上说,现代高速机器比较脆弱,规定进料流量稍有偏差或生产工艺中存在任何积压,都会造成严重影响。凭借每秒 40,000 次测量,我们的速度遥遥领先于任何生产工艺。
  • 工厂效率 – 利用我们的测量结果,机器制造商可在最大程度上优化利用先进机器,同时减少停机和浪费。
  • 产品质量和产品安全 – 对质量而言,精确的水分起到决定性作用。在工业领域内,水分错误甚至可能危害产品安全,因为有效成分可能发生变化,产生毒性,如果产品过于干燥或粉尘过多,还可增大爆炸风险。
  • 储存效率 – 完全符合各成分的建议含水量级别,确保产品完整性。
水分和密度解决方案

二者兼具

TEWS 专利双参数测量解决方案使公司能够同时双向使用精确数据,即与产品的水分和密度相关的数据。通过多束微波,甚至多种不同成分也可测量。这可在产品质量和效率方面取得更好的结果。

 

  • 质量流和天平检查 – 使用准确的密度信息确保均匀装料和含量控制。
  • 质量控制和产品安全 – 因全面在线生产控制而得到完美成品。
  • 工厂效率 – 根据传感器控制和算法优化生产,自动调整机器运行。
用途

应用领域。

广泛用于目前不使用传统方法测量水分、密度、重量以及与这些参数相关的其他物质的所有行业。

微波不受温度、水分、振动和光照等环境变化影响(或有补偿)。它不存在运动部件或老化问题。它有长期稳定性。经证明,它可取代天平、密度计、β 射线头、流量计、厚度测量系统以及单参数系统或光学系统等低精度间接方法。 

TEWS 硬件和软件解决方案

详细了解基于平台的 OEM 解决方案。

在基于微波的水分、密度和质量相关测量领域内,TEWS 拥有 30 多年的丰富经验。受含水量影响的其他参数,或与其他参数相关的更多参数也可检测。

TEWS 有一支掌握渊博知识的业内顶尖专家团队,其中包括工程师、物理学家、机械设计师和化学家等优秀人才。

在我们促进客户产品改善的 Co-Improving 原则指导下,我们提供丰富齐全的服务,例如测量任务分析、试验性测量、建模、电子设备和传感器采用以及全新开发等。

基于速度从低到高的 4 个电子平台、各项技术以及 100 多种不同传感器,我们可在 12 个月(从项目启动到第一个原型)内为您实现新解决方案。在 Co-Improving 方面,我们与客户紧密协调此项业务开发工艺。它包括方方面面,不仅涵盖技术部分,而且重点关注客户成本效益计算和 ROI。

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André Tews
总监
André Tews
+49 40 555 911-0
andre.tews@tewsworks.com
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